Información Básica
Nombre: Liwen Zhu
Institución: PeKing University
Registro: 2016-10-10
Puntuación: 91
Conferencias Seguidas
| CCF | CORE | QUALIS | Abreviación | Nombre Completo | Entrega | Notificación | Conferencia |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| c | b2 | ETS | European Test Symposium | 2024-12-01 | 2025-02-14 | 2025-05-26 | |
| c | a2 | VTS | VLSI Test Symposium | 2024-11-01 | 2025-01-31 | 2025-04-28 | |
| c | a1 | ISCAS | International Symposium on Circuits and Systems | 2024-10-14 | 2025-01-20 | 2025-05-25 | |
| b | b | a1 | DATE | Design, Automation and Test in Europe | 2024-09-15 | 2025-03-31 | |
| b | b | a1 | ITC | International Test Conference | 2024-04-19 | 2024-11-03 | |
| APCCAS | IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems | 2018-07-31 | 2018-08-30 | 2018-10-26 | |||
| b1 | ICECS | International Conference on Electronics, Circuits and Systems | 2017-09-05 | 2017-10-10 | 2017-12-05 | ||
| MWSCAS | International Midwest Symposium on Circuits and Systems | 2015-03-23 | 2015-04-27 | 2015-08-02 |
| Abreviación | Nombre Completo | Entrega | Conferencia |
|---|---|---|---|
| ETS | European Test Symposium | 2024-12-01 | 2025-05-26 |
| VTS | VLSI Test Symposium | 2024-11-01 | 2025-04-28 |
| ISCAS | International Symposium on Circuits and Systems | 2024-10-14 | 2025-05-25 |
| DATE | Design, Automation and Test in Europe | 2024-09-15 | 2025-03-31 |
| ITC | International Test Conference | 2024-04-19 | 2024-11-03 |
| APCCAS | IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems | 2018-07-31 | 2018-10-26 |
| ICECS | International Conference on Electronics, Circuits and Systems | 2017-09-05 | 2017-12-05 |
| MWSCAS | International Midwest Symposium on Circuits and Systems | 2015-03-23 | 2015-08-02 |
Conferencias Asistidas
| CCF | CORE | QUALIS | Abreviación | Nombre Completo | Conferencia | Ubicación |
|---|---|---|---|---|---|---|
| No se encontraron resultados. | ||||||
| Nombre Completo | Conferencia | Ubicación |
|---|---|---|
| No se encontraron resultados. | ||
Revistas Seguidas
| CCF | Nombre Completo | Factor de Impacto | Editor | ISSN |
|---|---|---|---|---|
| Microelectronics Journal | Elsevier | 0026-2692 |
| Nombre Completo | Factor de Impacto | Editor |
|---|---|---|
| Microelectronics Journal | Elsevier |
Investigadores Seguidos
| Nombre | Institución | Registro | Puntuación |
|---|---|---|---|
| No se encontraron resultados. | |||
| Nombre | Institución | Puntuación |
|---|---|---|
| No se encontraron resultados. | ||
Trabajos rastreados
| Título profesional | Empleadora | locación de trabajo |
|---|---|---|
| No se encontraron resultados. | ||
| Título profesional | Empleadora | locación de trabajo |
|---|---|---|
| No se encontraron resultados. | ||
Conferencias vistas
| CCF | CORE | QUALIS | Abreviación | Nombre Completo | Entrega | Notificación | Conferencia |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| No se encontraron resultados. | |||||||
| Abreviación | Nombre Completo | Entrega | Conferencia |
|---|---|---|---|
| No se encontraron resultados. | |||
Revistas vistos
| CCF | Nombre Completo | Factor de Impacto | Editor | ISSN |
|---|---|---|---|---|
| No se encontraron resultados. | ||||
| Nombre Completo | Factor de Impacto | Editor |
|---|---|---|
| No se encontraron resultados. | ||